1. Digital hardware testing. transistor-level fault modeling and testing

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع: ، Electronic digital computers- Circuits- Testing- Data processing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Electric fault location

رده :
TK
7888
.
4
.
R35

2. System-on-a-chip

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Embedded computer systems- Design and construction,Embedded computer systems- Testing,Application specific integrated circuits- Design and construction

رده :
E-BOOK

3. System-on-a-chip

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)

موضوع: Embedded computer systems- Design and construction,Embedded computer systems- Testing,Application specific integrated circuits- Design and construction

رده :
TK7895
.
E42
,
R37
2000